Колебательные процессы в металлорежущих станках часто рассматриваются как детерминированные. Это оправдывается, если исследовать колебания в течение короткого промежутка времени и не учитывать рабочих процессов (резание, трение, процессы в электродвигателе и т. д.). Тогда при исследовании мы получим колебательный процесс с постоянной амплитудой и фазой, при этом применяется классический анализ Фурье.
В реальных же условиях при исследовании металлорежущих станков, записывая колебания, мы получаем одну из множества реализаций случайного процесса с различной амплитудой и фазой. Поэтому при исследовании колебаний металлорежущих станков целесообразно пользоваться методами теории случайных функций. Различные характеристики случайного процесса колебаний несут информацию о протекании процесса. При решении практических задач обычно используются такие характеристики случайных процессов, как дисперсия Dx(t), корреляционная функция Кх(х), спектральная плотность Sx(u>), взаимная корреляционная функция Кху(х), взаимная спектральная плотность Sxy((i>), функция когерентности v^ ■
Дисперсией случайного процесса называется такая функция аргумента t, значение которой при каждом t = U равно дисперсии Dx(ti) случайной величины x(U),
отвечающей значению аргумента при і=1%. Дисперсия характеризует разброс значений случайной величины около математического ожидания. Для непрерывной случайной величины она определяется выражением
Dx (t) = j [х (t) — Mx (*)]2 Ф (x) dx, (4.1)
где Mx (t) — математическое ожидание процесса х (/); Ф (х) — плотность распределения величины X.
При статистической обработке экспериментальных данных может быть определено среднее значение дисперсии по формуле
где x(ti) — среднее значение величины х при t = ti. Значение Dx, определенное по формуле (4.2), не зависит от времени t в случае стационарного случайного процесса, описывающего колебания станочной системы в установившемся режиме работы. Корреляционная функция показывает степень статистической зависимости между последовательными значениями случайного процесса. Аналитически для процесса x(t) она в общем виде определяется выражением
Кх (т) = М[х (f) x(t-f т)], (4.3)
где т — временной сдвиг; М — символ математического ожидания.
Для дискретного случайного процесса
(4.4)
Так как колебания в станках в большинстве случаев являются следствием колебаний упругих элементов, то реализация случайного процесса будет включать в себя ансамбль синусоидальных кривых. Корреляционная функция синусоидального процесса определяется по выражению
f!
2
(4.5)
(4.6)
где a — амплитуда; со — круговая частота.
Спектральная плотность Sx(со) показывает, как дисперсия процесса распределена по частотам:
1 00
5хИ=—— (X (т) dr. (4.7)
Здесь / = = V — 1. Для синусоидального процесса вида
х (I) • a cos (о„/ + b sin о>0/ (4.8)
спектральная плотность определяется выражением
Sx (w) = (со — со0) + 6 (со + соо)], (4.9)
где ©о — фиксированное значение частоты, т. е. спектральная плотность для полигармонического процесса представляет собой сумму 8-функций с коэффициентами, равными половине дисперсии.
Дисперсия процесса выражается через интеграл от спектральном плотности
оо
Dx= J Sx (о)) dco0. (4.10)
—oo
Часто необходимо сравнивать временные ряды, значения которых измерены в разных масштабах, имеют различный физический смысл и различную спектральную плотность. Разделив спектральную плотность на дисперсию процесса, получим нормированную спектральную плотность, которая отражает вклад дисперсии на определенных частотах в общую дисперсию.
Анализируя корреляционную функцию и спектральную плотность, можно сделать определенные выводы о случайном процессе колебаний формообразующих узлов станка. Например, если корреляционная функция плавно затухает при увеличении запаздывания, то спект
ральная плотность принимает большие значения на низких частотах и малые на высоких, что показывает доминирование низкочастотных колебаний в общем спектре. Увеличению частоты изменения значений корреляционной функции соответствует рост значений спектральной плотности на высоких частотах.
Рассмотренные характеристики применяются для описания свойств и анализа процессов по их отдельным реализациям. Часто возникает необходимость исследовать общие свойства, присущие двум разным процессам, например установить амплитудную и частотную связи между колебаниями шлифовального круга станка и профилем обработанной поверхности детали. Для такого анализа могут быть использованы совместные характеристики двух случайных процессов, такие, как взаимные корреляционная функция и спектральная плотность, функция когерентности.
Взаимная корреляционная функция Кху(х) двух случайных процессов характеризует общую зависимость значений одного процесса от значений другого. Оценку величины взаимной корреляционной функции, связывающей значение процесса x(t) в момент времени t и значение процесса y(t) в момент t+т, можно найти, вычислив произведение
Кзд(т) = M[x(t)y{t + %) (4.11)
Используя КМ, можно, в частности, исследовать время и путь прохождения возмущающего воздействия. Для линейной системы, зная взаимную корреляционную функцию, связывающую сигналы на входе и выходе системы, определяют время прохождения сигнала. Взаимная корреляционная функция будет иметь пик при сдвиге т, равном времени прохождения сигнала. Аналогично можно определить и путь прохождения сигнала с учетом сдвига т, требуемого на его прохождение.
Для дискретных случайных процессов функция Кху(х) вычисляется по формуле
1 " — —
Кху (т) = lim—— У [х (*,) — х (f,) 1 [у (f,+т) — у (*,+т).
«-*oo гг
(4.12)
Взаимная спектральная плотность Sxy (со) позволяет провести анализ связи двух различных процессов х (I) и y(t) на различных частотах:
Для этих целей удобно использовать также функцию когерентности vz (со), которая определяется выражением
При равенстве 1 функция когерентности указывает на детерминированную связь между процессами на данной частоте, при равенстве 0 •— на независимость процессов друг от друга. Диализируя станочную систему с помощью функцин когерентности и взаимной спектральном плотности, можно исследовать передаточные свой — пнн системі, і на фиксированных частотах и определить время прохождения сигнала как функцию частоты.