Методика определения фактической площади контакта в системе «СТМ-зерно-связка»

Характер и интенсивность взаимного микроразрушения элементов системы «СТМ-зерно-связка» в большой степени определяется величиной фактической площади контакта в системе «РПК-СТМ». Наиболее изучено контактирование шероховатых поверхностей с учетом вероятности встречи выступов, моделированных в виде стержней, сфер и эллипсоидов в работах Н. Б. Демкина, И. В. Крагельского, Э. В. Рыжова, И. Х. Чеповецкого [51, 81, 164].

Принципиальным отличием процесса взаимодействия системы «РПК — СТМ» от рассматриваемого при трении и износе является то, что контакти­руют принципиально различные по топографии поверхности. Одна из них РПК — дискретная, другая СТМ — квазисплошная. Контактируют практиче­ски идеально жесткие алмазные материалы, причем дискретную поверхность РПК формируют алмазные зерна, закрепленные в относительно пластичном материале — связке.

Выполненные опыты показали, что с увеличением нагрузки размер пя­тен упругого контакта растет незначительно, а фактическая площадь контак­та повышается в основном за счет увеличения их количества (упругое вдав­ливание зерен в связку). В работе рассматривались следующие площади контакта в системе «РПК-СТМ»:

1) номинальная Аа, определяемая геометрическими размерами контак­тирующих поверхностей; 2) контурная Ас, обусловленная площадками кон­такта, возникающими из-за макрогеометрических отклонений; 3) фактическая (физическая) Аг, представляющая собой сумму фактических участков соприкосновения инструмента и детали, через которые передается давление.

Поскольку определяющую роль играет не общая фактическая площадь контакта Ar, а удельная, приходящаяся на каждый отдельный контакт, т. е. на

A

макроуровне это Ar =—-, где n — число зерен в контакте. Очевидно, что

* n

Подпись: На микроуровне A' r =——, где n1 * nnY Подпись: число субмикрокромок на зерне,

чем мельче зерна, тем меньше величина пятен контакта, тем больше напря­жения в контакте.

находящемся в контакте.

Методика определения фактической площади контакта в системе «СТМ-зерно-связка» Подпись: (2.4)

Исходной для расчета фактической площади контакта является фор­мула определения среднего давления при упругой деформации сферических выступов по Герцу [213]:

где Е — относительное сближение контактирующих поверхностей;

I — упругая постоянная контакта;

P — приведенный радиус контактирующих сфер;

Hmax — расстояние между линией выступов и линией впадин профиля.

При моделировании процесса контактирования в системе «РПК-СТМ» предполагается, что алмазные зерна могут упруго вдавливаться в связку при контактировании с микронеровностями СТМ.

Фактическая площадь контакта по Н. Б. Демкину [51] при упругой де­формации микровыступов рассчитывается по формуле:

(2.5)

Подпись: 25 225 K2 И* EA 2nmaxn s±c где K2 — постоянная интегрирования, величина, которая зависит от численно­го значения 5;

N — нормальная нагрузка, Н; ц — коэффициент Пуассона связки;

E — модуль упругости связки, ГПа; r — радиус кривизны вершин зерен, мкм;

hmax — максимальная высота выступания зерен из связки; b и 5 — параметры опорной кривой рельефа РПК.

Под действием усилия прижима поверхности инструмента и детали сближаются. Сближение может в большой степени не соответствовать глу­бине упругого внедрения алмазов в обрабатываемый СТМ, т. к. при контакт­ном взаимодействии они перемещаются в связке, а величина и характер это­го перемещения изменяются в широком диапазоне в зависимости от физико­механических свойств связки.

По данным Н. Б. Демкина увеличение фактической площади контакта с ростом нагрузки осуществляется за счет «смятия» микронеровностей и по­этому в зависимости (2.5) учитывается модуль упругости контактирующих материалов Е. Поскольку в нашем случае «смятием» микрогребешков можно пренебречь, а увеличение фактической площади контакта с ростом нагрузки будет происходить в основном за счет заглубления зерен в связку, с опреде­ленными допущениями в зависимостях Н. Б. Демкина использовали не мо­дуль упругости контактирующих материалов (зерна и СТМ), а модуль упру­гости металлической связки.

Применительно к определению фактической площади контакта способ лазерного сканирования с компьютерной обработкой результатов измерения (см. п. 2.2) эффективен тем, что позволяет оценивать параметр tps — относи­тельную опорную площадь на любом уровне высоты рельефа, т. е. при раз­
личных степенях приспосабливаемости системы «РПК-СТМ». Учитывая возможности данной методики отфильтровывать макрорельеф, например,

волнистость, полученная величина tps на уровне 0-1 мкм (упругое вдавлива­ние зерен в связку) является адекватной фактической площади контакта при допущении, что поверхность СТМ идеально гладкая. Аналогичным образом, получив компьютерную зависимость относительной опорной площади по­верхности СТМ, можно по этим зависимостям прогнозировать и определять величину фактической площади контакта при любой степени приспособлен­ности в системе «РПК-СТМ». Еще одно существенное достоинство метода лазерного сканирования — возможность количественно оценивать параметры микрорельефа отдельных алмазных зерен, которые используют в формулах Н. Б. Демкина и И. В. Крагельского при определении фактической площади на микроуровне.

Экспериментальное определение величины фактической площади кон­такта РПК с обрабатываемым СТМ проводилось также по отпечаткам на фольге, сдавливаемой с реально используемым при шлифовании нормаль­ным давлением усилием Рн между кругом и обрабатываемым СТМ.

Updated: 28.03.2016 — 18:44